半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2003年
2期
13-16
,共4页
熊险峰%张红南%杨献%陈为%司孝平
熊險峰%張紅南%楊獻%陳為%司孝平
웅험봉%장홍남%양헌%진위%사효평
内建自测试%系统芯片%可测性检测
內建自測試%繫統芯片%可測性檢測
내건자측시%계통심편%가측성검측
简述了片上系统的基本概念,分析了目前片上系统测试技术所面临的问题.对即将成为主流测试方法的内建自测试技术(BIST)进行了详尽地论述,并提出了两种新的BIST综合测试技术.
簡述瞭片上繫統的基本概唸,分析瞭目前片上繫統測試技術所麵臨的問題.對即將成為主流測試方法的內建自測試技術(BIST)進行瞭詳儘地論述,併提齣瞭兩種新的BIST綜閤測試技術.
간술료편상계통적기본개념,분석료목전편상계통측시기술소면림적문제.대즉장성위주류측시방법적내건자측시기술(BIST)진행료상진지논술,병제출료량충신적BIST종합측시기술.
