光学与光电技术
光學與光電技術
광학여광전기술
OPTICS & OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY
2011年
2期
9-14
,共6页
三维面形测量%光栅频率%调制度传递函数%截止频率
三維麵形測量%光柵頻率%調製度傳遞函數%截止頻率
삼유면형측량%광책빈솔%조제도전체함수%절지빈솔
在基于光栅投影的三维物体面形测量技术中,投影光栅的频率将直接影响着最终的测量精度,在系统参数允许的情况下,尽可能大地光栅频率将带来高的系统测量精度,因此,光栅频率选择是一个关键问题.提出了一种确定投影系统物面光栅频率上限的方法,采用基于图像分析的调制度传递函数测量原理,首先测得系统的调制度传递函数曲线,再由此确定满足系统限制的投影光栅截止频率.将调制度传递函数引入三维面形测量,全面考察系统低通滤波特性,有针对性地指导投影光栅频率的选择.并用实验证明了该方法的有效性.
在基于光柵投影的三維物體麵形測量技術中,投影光柵的頻率將直接影響著最終的測量精度,在繫統參數允許的情況下,儘可能大地光柵頻率將帶來高的繫統測量精度,因此,光柵頻率選擇是一箇關鍵問題.提齣瞭一種確定投影繫統物麵光柵頻率上限的方法,採用基于圖像分析的調製度傳遞函數測量原理,首先測得繫統的調製度傳遞函數麯線,再由此確定滿足繫統限製的投影光柵截止頻率.將調製度傳遞函數引入三維麵形測量,全麵攷察繫統低通濾波特性,有針對性地指導投影光柵頻率的選擇.併用實驗證明瞭該方法的有效性.
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