红外与毫米波学报
紅外與毫米波學報
홍외여호미파학보
JOURNAL OF INFRARED AND MILLIMETER WAVES
1999年
4期
327-331
,共5页
张素英%范滨%程实平%凌洁华%周诗瑶%王葛亚%施天生
張素英%範濱%程實平%凌潔華%週詩瑤%王葛亞%施天生
장소영%범빈%정실평%릉길화%주시요%왕갈아%시천생
碲化物%薄膜%显微结构%附着牢固度
碲化物%薄膜%顯微結構%附著牢固度
제화물%박막%현미결구%부착뢰고도
用X射线衍射(XRD)和透射电镜术(TEM)观察Si和Ge基板上PbTe、CdTe及PbGeTe单层薄膜及其与ZnS组合的多层薄膜的显微结构,给出了薄膜附着牢固度与薄膜显微结构的关系.
用X射線衍射(XRD)和透射電鏡術(TEM)觀察Si和Ge基闆上PbTe、CdTe及PbGeTe單層薄膜及其與ZnS組閤的多層薄膜的顯微結構,給齣瞭薄膜附著牢固度與薄膜顯微結構的關繫.
용X사선연사(XRD)화투사전경술(TEM)관찰Si화Ge기판상PbTe、CdTe급PbGeTe단층박막급기여ZnS조합적다층박막적현미결구,급출료박막부착뢰고도여박막현미결구적관계.
