南京大学学报（自然科学版）
南京大學學報（自然科學版）
남경대학학보（자연과학판）
JOURNAL OF NANJING UNIVERSITY(NATURAL SCIENCES)
2009年
2期
143-146
,共4页
韦晓%王艳丽%梁永锋%叶丰%林均品%陈国良%李卓昕%王宝义
韋曉%王豔麗%樑永鋒%葉豐%林均品%陳國良%李卓昕%王寶義
위효%왕염려%량영봉%협봉%림균품%진국량%리탁흔%왕보의
Fe-6.5wt.％Si合金%正电子湮没寿命%空位生成激活焓
Fe-6.5wt.％Si閤金%正電子湮沒壽命%空位生成激活焓
Fe-6.5wt.％Si합금%정전자인몰수명%공위생성격활함
正电子湮没技术(PAT)是一种无损伤的材料探测技术,它可以反映正电子所在处电子密度或电子动量分布的信息.由于正电子对原子尺度的缺陷非常敏感,所以正电子湮没技术(PAT)是研究纯金属及金属间化合物中热空位生成的有效工具.基于正电子寿命谱技术对金属间化合物Fe-6.5wt.%Si合金热轧板在不同温度退火后缺陷变化进行研究,发现了正电子平均寿命在673 K左右迅速增加,673至1 073 K温度范围内平均正电子寿命的温度曲线为明显的S形状,1 073 K以上平均正电子寿命趋于常数,通过分析正电子平均寿命的温度变化曲线,得到了Fe-6.5wt.%Si合金中热空位生成的临界温度值,并计算得到了该合金的空位生成激活焓为HFV=0.54 eV.
正電子湮沒技術(PAT)是一種無損傷的材料探測技術,它可以反映正電子所在處電子密度或電子動量分佈的信息.由于正電子對原子呎度的缺陷非常敏感,所以正電子湮沒技術(PAT)是研究純金屬及金屬間化閤物中熱空位生成的有效工具.基于正電子壽命譜技術對金屬間化閤物Fe-6.5wt.%Si閤金熱軋闆在不同溫度退火後缺陷變化進行研究,髮現瞭正電子平均壽命在673 K左右迅速增加,673至1 073 K溫度範圍內平均正電子壽命的溫度麯線為明顯的S形狀,1 073 K以上平均正電子壽命趨于常數,通過分析正電子平均壽命的溫度變化麯線,得到瞭Fe-6.5wt.%Si閤金中熱空位生成的臨界溫度值,併計算得到瞭該閤金的空位生成激活焓為HFV=0.54 eV.
정전자인몰기술(PAT)시일충무손상적재료탐측기술,타가이반영정전자소재처전자밀도혹전자동량분포적신식.유우정전자대원자척도적결함비상민감,소이정전자인몰기술(PAT)시연구순금속급금속간화합물중열공위생성적유효공구.기우정전자수명보기술대금속간화합물Fe-6.5wt.%Si합금열알판재불동온도퇴화후결함변화진행연구,발현료정전자평균수명재673 K좌우신속증가,673지1 073 K온도범위내평균정전자수명적온도곡선위명현적S형상,1 073 K이상평균정전자수명추우상수,통과분석정전자평균수명적온도변화곡선,득도료Fe-6.5wt.%Si합금중열공위생성적림계온도치,병계산득도료해합금적공위생성격활함위HFV=0.54 eV.
