瞬时辐射对80C31单片机性能的影响
순시복사대80C31단편궤성능적영향
Influence of transient radiation for the behaviour of the 80C31 single-chip microcontrollers
  • 万方数据
    核电子学与探测技术 핵전자학여탐측기술
    NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
    2006年 6期 981-984 ,共4页

    周开明%谢泽元%杨有莉

    주개명%사택원%양유리

    80C31单片机%剂量率%闭锁电流 80C31單片機%劑量率%閉鎖電流
    80C31단편궤%제량솔%폐쇄전류
    研究了80C31单片机瞬时剂量率辐射特性和闭锁电流随"闪光-1" γ射线剂量率的变化规律,分析了80C31单γ片机在浅和深闭锁时具有不同的电流特性.
    연구료80C31단편궤순시제량솔복사특성화폐쇄전류수"섬광-1" γ사선제량솔적변화규률,분석료80C31단γ편궤재천화심폐쇄시구유불동적전류특성.
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