分析测试技术与仪器
分析測試技術與儀器
분석측시기술여의기
ANALYSIS AND TESTING TECHNOLOGY AND INSTRUMENTS
2011年
1期
42-46
,共5页
纳米复合材料%X射线光电子能谱%衰减全反射红外光谱
納米複閤材料%X射線光電子能譜%衰減全反射紅外光譜
납미복합재료%X사선광전자능보%쇠감전반사홍외광보
用X射线光电子能谱法(XPS)测定了BiI3与nylon11作用生成纳米复合材料后聚合物中酰胺基团的N、O内层能级电子结合能变化,同时用衰减全反射红外光谱法(ATR-IR)研究了BiI3一nylonll复合材料中BiI3对尼龙酰胺基团之间氢键作用的影响.结果表明,与纯nylon11聚合物相比,BiI3-nylon11纳米复合材料中Nls、Ols的结合能要稍高一些;N-H伸缩振动、酰胺Ⅰ谱带、酰胺Ⅱ谱带振动频率在X射线照射前均发生显著位移,而X射线照射后没有明显的变化,只是谱带变宽.另一方面,无论X射线照射与否,CH2伸缩振动基本不变.实验所得结果对于理解聚合物中氢键相互作用及其对复合材料的结构和性能的影响有一定意义.
用X射線光電子能譜法(XPS)測定瞭BiI3與nylon11作用生成納米複閤材料後聚閤物中酰胺基糰的N、O內層能級電子結閤能變化,同時用衰減全反射紅外光譜法(ATR-IR)研究瞭BiI3一nylonll複閤材料中BiI3對尼龍酰胺基糰之間氫鍵作用的影響.結果錶明,與純nylon11聚閤物相比,BiI3-nylon11納米複閤材料中Nls、Ols的結閤能要稍高一些;N-H伸縮振動、酰胺Ⅰ譜帶、酰胺Ⅱ譜帶振動頻率在X射線照射前均髮生顯著位移,而X射線照射後沒有明顯的變化,隻是譜帶變寬.另一方麵,無論X射線照射與否,CH2伸縮振動基本不變.實驗所得結果對于理解聚閤物中氫鍵相互作用及其對複閤材料的結構和性能的影響有一定意義.
용X사선광전자능보법(XPS)측정료BiI3여nylon11작용생성납미복합재료후취합물중선알기단적N、O내층능급전자결합능변화,동시용쇠감전반사홍외광보법(ATR-IR)연구료BiI3일nylonll복합재료중BiI3대니룡선알기단지간경건작용적영향.결과표명,여순nylon11취합물상비,BiI3-nylon11납미복합재료중Nls、Ols적결합능요초고일사;N-H신축진동、선알Ⅰ보대、선알Ⅱ보대진동빈솔재X사선조사전균발생현저위이,이X사선조사후몰유명현적변화,지시보대변관.령일방면,무론X사선조사여부,CH2신축진동기본불변.실험소득결과대우리해취합물중경건상호작용급기대복합재료적결구화성능적영향유일정의의.
