半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2001年
4期
250-252，255
,共4页
蒋黎红%吴欣%章献民%戴新华%徐坚
蔣黎紅%吳訢%章獻民%戴新華%徐堅
장려홍%오흔%장헌민%대신화%서견
塑料光纤%折射率测量%聚焦法
塑料光纖%摺射率測量%聚焦法
소료광섬%절사솔측량%취초법
采用聚焦法对渐变折射率塑料光纤纤芯折射率分布进行了测量.聚焦法是一种非破坏性的测量方法,用平行光线垂直照射塑料光纤,并用聚焦于纤芯边界平面的显微镜进行观察,像平面的光强分布由计算机进行视频采集,经过计算得出纤芯的折射率分布.设计了测试系统,得到了塑料光纤的折射率分布曲线,并进行了误差分析.
採用聚焦法對漸變摺射率塑料光纖纖芯摺射率分佈進行瞭測量.聚焦法是一種非破壞性的測量方法,用平行光線垂直照射塑料光纖,併用聚焦于纖芯邊界平麵的顯微鏡進行觀察,像平麵的光彊分佈由計算機進行視頻採集,經過計算得齣纖芯的摺射率分佈.設計瞭測試繫統,得到瞭塑料光纖的摺射率分佈麯線,併進行瞭誤差分析.
채용취초법대점변절사솔소료광섬섬심절사솔분포진행료측량.취초법시일충비파배성적측량방법,용평행광선수직조사소료광섬,병용취초우섬심변계평면적현미경진행관찰,상평면적광강분포유계산궤진행시빈채집,경과계산득출섬심적절사솔분포.설계료측시계통,득도료소료광섬적절사솔분포곡선,병진행료오차분석.
