光学与光电技术
光學與光電技術
광학여광전기술
OPTICS & OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY
2005年
6期
9-11
,共3页
半导体制冷器%非均匀性校正%响应率%Peltier 效应
半導體製冷器%非均勻性校正%響應率%Peltier 效應
반도체제랭기%비균균성교정%향응솔%Peltier 효응
非均匀性是红外系统中影响图像质量的重要因素.为了更好地拟合探测器的响应曲线,充分发挥探测器的最佳性能,以获得良好的图像效果,在两点校正的理论基础上提出了一种更为实用的两点校正方法.通过单片机(MCU)控制半导体制冷器(TEC)以产生两个不同的校正温度点,系统分别读取在这两个温度点下所采集的两幅图像,利用两点校正算法计算探测器的响应率和暗电流.通过实验验证,这种校正算法实用,易于实现.
非均勻性是紅外繫統中影響圖像質量的重要因素.為瞭更好地擬閤探測器的響應麯線,充分髮揮探測器的最佳性能,以穫得良好的圖像效果,在兩點校正的理論基礎上提齣瞭一種更為實用的兩點校正方法.通過單片機(MCU)控製半導體製冷器(TEC)以產生兩箇不同的校正溫度點,繫統分彆讀取在這兩箇溫度點下所採集的兩幅圖像,利用兩點校正算法計算探測器的響應率和暗電流.通過實驗驗證,這種校正算法實用,易于實現.
비균균성시홍외계통중영향도상질량적중요인소.위료경호지의합탐측기적향응곡선,충분발휘탐측기적최가성능,이획득량호적도상효과,재량점교정적이론기출상제출료일충경위실용적량점교정방법.통과단편궤(MCU)공제반도체제랭기(TEC)이산생량개불동적교정온도점,계통분별독취재저량개온도점하소채집적량폭도상,이용량점교정산법계산탐측기적향응솔화암전류.통과실험험증,저충교정산법실용,역우실현.
