电子器件
電子器件
전자기건
JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
2012年
3期
317-321
,共5页
可测性设计%扫描设计%阴影逻辑%故障覆盖率%自动测试图形生成
可測性設計%掃描設計%陰影邏輯%故障覆蓋率%自動測試圖形生成
가측성설계%소묘설계%음영라집%고장복개솔%자동측시도형생성
在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障.通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设计,为阴影逻辑提供了可测试路径,提高了整个芯片的测试覆盖率和故障覆盖率.分析了设计的功耗、面积,确定了设计的有效性.
在使用ATPG工具對集成電路進行固定故障測試時,嵌入式存儲器模塊被視為簡單的I/O模型,ATPG工具無法傳遞存儲器週圍組閤邏輯的故障.通過研究SOC的可測性設計後,針對某數字信息安全芯片設計,利用掃描設計原理,改進瞭其存儲器週圍邏輯的設計,為陰影邏輯提供瞭可測試路徑,提高瞭整箇芯片的測試覆蓋率和故障覆蓋率.分析瞭設計的功耗、麵積,確定瞭設計的有效性.
재사용ATPG공구대집성전로진행고정고장측시시,감입식존저기모괴피시위간단적I/O모형,ATPG공구무법전체존저기주위조합라집적고장.통과연구SOC적가측성설계후,침대모수자신식안전심편설계,이용소묘설계원리,개진료기존저기주위라집적설계,위음영라집제공료가측시로경,제고료정개심편적측시복개솔화고장복개솔.분석료설계적공모、면적,학정료설계적유효성.
