第二代身份证专用芯片噪声检测及标定方法研究
제이대신빈증전용심편조성검측급표정방법연구
Study on Noise Measurement and Scaling for the 2nd Generation ID Card
  • 万方数据
    电子设计应用 전자설계응용
    ELECTRONIC DESIGN & APPLICATION WORLD
    2005年 11期 81-84 ,共4页

    周建锁%聂岩

    주건쇄%섭암

    射频卡%噪声检测%噪声标定%兼容性 射頻卡%譟聲檢測%譟聲標定%兼容性
    사빈잡%조성검측%조성표정%겸용성
    第二代身份证射频卡芯片在工作场强内不可避免地会产生噪声,可能会影响卡片与读卡器系统的正常工作.本文从理论上详细分析了卡片调制信号幅值与读卡器灵敏度的关系,提出了一种卡片噪声的检测和标定方法.这有利于合理地匹配不同厂家的卡片与读卡机具,改善兼容性,对二代证的大量应用具有重要意义.
    제이대신빈증사빈잡심편재공작장강내불가피면지회산생조성,가능회영향잡편여독잡기계통적정상공작.본문종이론상상세분석료잡편조제신호폭치여독잡기령민도적관계,제출료일충잡편조성적검측화표정방법.저유리우합리지필배불동엄가적잡편여독잡궤구,개선겸용성,대이대증적대량응용구유중요의의.
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