高分子材料科学与工程
高分子材料科學與工程
고분자재료과학여공정
POLYMER MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING
2000年
6期
127-129,133
,共4页
江键%夏钟福%崔黎丽%宋聚平
江鍵%夏鐘福%崔黎麗%宋聚平
강건%하종복%최려려%송취평
PTFE多孔膜%驻极体%电荷贮存寿命
PTFE多孔膜%駐極體%電荷貯存壽命
PTFE다공막%주겁체%전하저존수명
利用等温表面电位衰减和开路热刺激放电电流谱的测量等方法,系统地研究了经单向拉伸而形成孔径为1~5μm,孔度为50%的聚四氟乙烯多孔膜的空间电荷贮存稳定性.并与在同等实验条件下的高密度PTFE、FEP、Aclar PCTFE和Kapton PI这4种典型驻极体材料的电荷贮存寿命进行了对比研究.结果显示,PTFE多孔膜较PTFE和FEP等驻极体材料有更优异的负电荷贮存稳定性,其常温负电荷的电荷贮存寿命可达103a以上.
利用等溫錶麵電位衰減和開路熱刺激放電電流譜的測量等方法,繫統地研究瞭經單嚮拉伸而形成孔徑為1~5μm,孔度為50%的聚四氟乙烯多孔膜的空間電荷貯存穩定性.併與在同等實驗條件下的高密度PTFE、FEP、Aclar PCTFE和Kapton PI這4種典型駐極體材料的電荷貯存壽命進行瞭對比研究.結果顯示,PTFE多孔膜較PTFE和FEP等駐極體材料有更優異的負電荷貯存穩定性,其常溫負電荷的電荷貯存壽命可達103a以上.
이용등온표면전위쇠감화개로열자격방전전류보적측량등방법,계통지연구료경단향랍신이형성공경위1~5μm,공도위50%적취사불을희다공막적공간전하저존은정성.병여재동등실험조건하적고밀도PTFE、FEP、Aclar PCTFE화Kapton PI저4충전형주겁체재료적전하저존수명진행료대비연구.결과현시,PTFE다공막교PTFE화FEP등주겁체재료유경우이적부전하저존은정성,기상온부전하적전하저존수명가체103a이상.