微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2012年
4期
596-600
,共5页
付琬月%董宇亮%张洪伟%方园
付琬月%董宇亮%張洪偉%方園
부완월%동우량%장홍위%방완
极限评估%GaAs MMIC%功率放大器%失效模式
極限評估%GaAs MMIC%功率放大器%失效模式
겁한평고%GaAs MMIC%공솔방대기%실효모식
研究了极限评估试验技术,选用国内某款GaAs MMIC功率放大器芯片,分析了器件的详细规范、关键参数、极限判据等信息,设计了高温极限评估试验和电压应力极限评估试验的试验剖面,考察器件在热、电应力下的极限能力和失效模式,并对极限评估试验的技术手段进行了实验验证.实验结果表明,极限评估试验技术能有效评价两组试验器件的各类极限,通过试验可以获得器件的失效模式,以及器件的可靠性裕度,为改进元器件设计、材料和工艺提供依据.
研究瞭極限評估試驗技術,選用國內某款GaAs MMIC功率放大器芯片,分析瞭器件的詳細規範、關鍵參數、極限判據等信息,設計瞭高溫極限評估試驗和電壓應力極限評估試驗的試驗剖麵,攷察器件在熱、電應力下的極限能力和失效模式,併對極限評估試驗的技術手段進行瞭實驗驗證.實驗結果錶明,極限評估試驗技術能有效評價兩組試驗器件的各類極限,通過試驗可以穫得器件的失效模式,以及器件的可靠性裕度,為改進元器件設計、材料和工藝提供依據.
연구료겁한평고시험기술,선용국내모관GaAs MMIC공솔방대기심편,분석료기건적상세규범、관건삼수、겁한판거등신식,설계료고온겁한평고시험화전압응력겁한평고시험적시험부면,고찰기건재열、전응력하적겁한능력화실효모식,병대겁한평고시험적기술수단진행료실험험증.실험결과표명,겁한평고시험기술능유효평개량조시험기건적각류겁한,통과시험가이획득기건적실효모식,이급기건적가고성유도,위개진원기건설계、재료화공예제공의거.
