中国集成电路
中國集成電路
중국집성전로
CHINA INTEGRATED CIRCUIT
2011年
10期
62-66,71
,共6页
葛文启%申晔%林秋%田涛%祝鹏
葛文啟%申曄%林鞦%田濤%祝鵬
갈문계%신엽%림추%전도%축붕
非接触式智能IC卡%谐振频率%LCRMeter%频谱分析仪
非接觸式智能IC卡%諧振頻率%LCRMeter%頻譜分析儀
비접촉식지능IC잡%해진빈솔%LCRMeter%빈보분석의
在非接触式智能IC卡（以下简称“智能卡”）测量领域，对智能卡的谐振频率测量方法尚未形成统一的标准，因此在智能卡设计、验证、生产中，严格地说，不能使用谐振频率这一参数作为评价依据；而在学术领域中，讨论该参数的测量结果时，也需要对测量条件和测量方法进行详细的说明，否则基于谐振频率的讨论得出的结果将是不严谨的，同时缺乏可信度。
在非接觸式智能IC卡（以下簡稱“智能卡”）測量領域，對智能卡的諧振頻率測量方法尚未形成統一的標準，因此在智能卡設計、驗證、生產中，嚴格地說，不能使用諧振頻率這一參數作為評價依據；而在學術領域中，討論該參數的測量結果時，也需要對測量條件和測量方法進行詳細的說明，否則基于諧振頻率的討論得齣的結果將是不嚴謹的，同時缺乏可信度。
재비접촉식지능IC잡（이하간칭“지능잡”）측량영역，대지능잡적해진빈솔측량방법상미형성통일적표준，인차재지능잡설계、험증、생산중，엄격지설，불능사용해진빈솔저일삼수작위평개의거；이재학술영역중，토론해삼수적측량결과시，야수요대측량조건화측량방법진행상세적설명，부칙기우해진빈솔적토론득출적결과장시불엄근적，동시결핍가신도。
