MeV能量Si+引起二次离子发射的研究
MeV능량Si+인기이차리자발사적연구
Study of Secondary Ion Emissions Induced by MeV Si +
  • 万方数据
    核电子学与探测技术 핵전자학여탐측기술
    NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
    2012年 2期 141-144,155 ,共5页

    祝兆文%郑涛%侯杰%聂锐%马宏骥%刘坤%郭猜%丁富荣

    축조문%정도%후걸%섭예%마굉기%류곤%곽시%정부영

    二次离子质谱%飞行时间%降噪%碳纳米管 二次離子質譜%飛行時間%降譟%碳納米管
    이차리자질보%비행시간%강조%탄납미관
    利用北京大学2×1.7 MV串列加速器终端的飞行时间(TOF)谱仪,分别用1.5、2.0和3.0MeV三种能量的初级束Si+轰击样品来研究其二次离子发射现象,使用的样品包括石墨、碳纳米管等.结果表明,采用合理的降噪方法后得到了高信噪比和高时间分辨率的二次离子质谱,实现了全质量范围无遗漏记谱.利用H-C12峰刻度之后,计算得出二次离子各成分的最可能构成及产额,碳纳米管样品表面氢质量含量为8.15％.同时,发现MeV能区二次离子产额与Si+阻止本领之间的关系并非简单的正相关.
    이용북경대학2×1.7 MV천렬가속기종단적비행시간(TOF)보의,분별용1.5、2.0화3.0MeV삼충능량적초급속Si+굉격양품래연구기이차리자발사현상,사용적양품포괄석묵、탄납미관등.결과표명,채용합리적강조방법후득도료고신조비화고시간분변솔적이차리자질보,실현료전질량범위무유루기보.이용H-C12봉각도지후,계산득출이차리자각성분적최가능구성급산액,탄납미관양품표면경질량함량위8.15％.동시,발현MeV능구이차리자산액여Si+조지본령지간적관계병비간단적정상관.
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