微电子学
微電子學
미전자학
MICROELECTRONICS
2008年
5期
633-636
,共4页
曹福全%石艳玲%陈哲%甘甜%温秀芝%刘婧
曹福全%石豔玲%陳哲%甘甜%溫秀芝%劉婧
조복전%석염령%진철%감첨%온수지%류청
差分静态电流测试%深亚微米器件%故障覆盖率
差分靜態電流測試%深亞微米器件%故障覆蓋率
차분정태전류측시%심아미미기건%고장복개솔
在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流(ΔIddq)测试原理的基础上,提出了一套深亚微米工艺下芯片的ΔIddq辅助测试解决方案.通过样本芯片,检验了ΔIddq测试方法的有效性;并根据检验结果,提出了Δ归一化的改进技术.经验证,这种优化后的ΔIddq辅助测量技术可有效筛选出功能测试不能覆盖的故障类型,提高了测试覆盖率.
在分析深亞微米工藝下芯片的差分靜態電流(ΔIddq)測試原理的基礎上,提齣瞭一套深亞微米工藝下芯片的ΔIddq輔助測試解決方案.通過樣本芯片,檢驗瞭ΔIddq測試方法的有效性;併根據檢驗結果,提齣瞭Δ歸一化的改進技術.經驗證,這種優化後的ΔIddq輔助測量技術可有效篩選齣功能測試不能覆蓋的故障類型,提高瞭測試覆蓋率.
재분석심아미미공예하심편적차분정태전류(ΔIddq)측시원리적기출상,제출료일투심아미미공예하심편적ΔIddq보조측시해결방안.통과양본심편,검험료ΔIddq측시방법적유효성;병근거검험결과,제출료Δ귀일화적개진기술.경험증,저충우화후적ΔIddq보조측량기술가유효사선출공능측시불능복개적고장류형,제고료측시복개솔.
