应用科技
應用科技
응용과기
YING YONG KE JI
2007年
7期
46-49
,共4页
崔大海%汪滨琦%张晶%任冬
崔大海%汪濱琦%張晶%任鼕
최대해%왕빈기%장정%임동
隔离测试%A/D%D/A%仪表放大器
隔離測試%A/D%D/A%儀錶放大器
격리측시%A/D%D/A%의표방대기
介绍了低值电阻的隔离测试技术,阐述基本方法及理论.在系统组成的框架上,应用单片机、A/D、D/A模块实现硬件电路的设计.简述了A/D、D/A模块的基本结构和与单片机的接口设计.在D/A模块设计中,采用8位精度DAC 2级锁存器实现16位的精度.通过台面试验,基本满足设计的测量要求.
介紹瞭低值電阻的隔離測試技術,闡述基本方法及理論.在繫統組成的框架上,應用單片機、A/D、D/A模塊實現硬件電路的設計.簡述瞭A/D、D/A模塊的基本結構和與單片機的接口設計.在D/A模塊設計中,採用8位精度DAC 2級鎖存器實現16位的精度.通過檯麵試驗,基本滿足設計的測量要求.
개소료저치전조적격리측시기술,천술기본방법급이론.재계통조성적광가상,응용단편궤、A/D、D/A모괴실현경건전로적설계.간술료A/D、D/A모괴적기본결구화여단편궤적접구설계.재D/A모괴설계중,채용8위정도DAC 2급쇄존기실현16위적정도.통과태면시험,기본만족설계적측량요구.