CAJ | 학술논문

采用X-射线荧光(XRF)、电感耦合等离子体光谱和质谱(ICP-AES/MS)技术,研究了超细地质分析样品(约800目)的分析方法和条件.结果表明,对于超细样品,XRF可直接粉末压片制样而不必高温熔融制样进行高精度的主、次组分测定;ICP-AES/MS的取样量可降至2 ～5 mg(仅为-200目样品的1/20 ～1/50),试剂用量大大减小,样品更易消解,不仅可节约成本,降低能耗,还显著减小了对环境的影响.讨论了发展超细样品分析的意义及对地质分析技术发展的可能影响.
채용X-사선형광(XRF)、전감우합등리자체광보화질보(ICP-AES/MS)기술,연구료초세지질분석양품(약800목)적분석방법화조건.결과표명,대우초세양품,XRF가직접분말압편제양이불필고온용융제양진행고정도적주、차조분측정;ICP-AES/MS적취양량가강지2 ～5 mg(부위-200목양품적1/20 ～1/50),시제용량대대감소,양품경역소해,불부가절약성본,강저능모,환현저감소료대배경적영향.토론료발전초세양품분석적의의급대지질분석기술발전적가능영향.