电子产品可靠性与环境试验
電子產品可靠性與環境試驗
전자산품가고성여배경시험
ELECTRONIC PRODUCT RELIABILITY AND ENVIRONMENTAL TESTING
2005年
z1期
184-188
,共5页
肖虹%田宇%蔡少英%刘涌
肖虹%田宇%蔡少英%劉湧
초홍%전우%채소영%류용
军用电子元器件%可靠性试验%塑封微电路%光电子%失效分析
軍用電子元器件%可靠性試驗%塑封微電路%光電子%失效分析
군용전자원기건%가고성시험%소봉미전로%광전자%실효분석
为了学习、吸收和借鉴国外的先进技术和经验,对国外军用电子元器件可靠性技术进行了跟踪研究,介绍了塑封微电路(PEM)、光电子等新的元器件的可靠性试验与评价技术、新的失效分析技术以及MCM、KGD、MEMS等新技术的可靠性研究现状,探讨了国外军用电子元器件可靠性技术的研究方向和发展趋势.
為瞭學習、吸收和藉鑒國外的先進技術和經驗,對國外軍用電子元器件可靠性技術進行瞭跟蹤研究,介紹瞭塑封微電路(PEM)、光電子等新的元器件的可靠性試驗與評價技術、新的失效分析技術以及MCM、KGD、MEMS等新技術的可靠性研究現狀,探討瞭國外軍用電子元器件可靠性技術的研究方嚮和髮展趨勢.
위료학습、흡수화차감국외적선진기술화경험,대국외군용전자원기건가고성기술진행료근종연구,개소료소봉미전로(PEM)、광전자등신적원기건적가고성시험여평개기술、신적실효분석기술이급MCM、KGD、MEMS등신기술적가고성연구현상,탐토료국외군용전자원기건가고성기술적연구방향화발전추세.
