SRAM型FPGA单粒子效应敏感性分析研究
SRAM형FPGA단입자효응민감성분석연구
Study the Single Event Effect Sensitivity of SRAM - based FPGA
  • 万方数据
    核电子学与探测技术 핵전자학여탐측기술
    NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
    2012年 3期 272-278 ,共7页

    杜守刚%范隆%岳素格%郑宏超%于春青%董攀%杨晓飞%贾海涛

    두수강%범륭%악소격%정굉초%우춘청%동반%양효비%가해도

    SRAM型FPGA%单粒子效应敏感性%单粒子翻转%单粒子功能中断%单粒子闩锁 SRAM型FPGA%單粒子效應敏感性%單粒子翻轉%單粒子功能中斷%單粒子閂鎖
    SRAM형FPGA%단입자효응민감성%단입자번전%단입자공능중단%단입자산쇄
    首先描述了典型的SRAM型FPGA内部通常包含的三类基本资源,并分析三类基本资源内部不同功能的电路单元对单粒子效应的敏感性,归纳出Virtex系列SRAM型FPGA中6种类型的单粒子效应敏感结构单元,并得出这些敏感结构单元的单粒子翻转、单粒子功能中断、单粒子闩锁的检测方式,最后对SRAM型FPGA单粒子效应评估研究的发展趋势做了简要总结.
    수선묘술료전형적SRAM형FPGA내부통상포함적삼류기본자원,병분석삼류기본자원내부불동공능적전로단원대단입자효응적민감성,귀납출Virtex계렬SRAM형FPGA중6충류형적단입자효응민감결구단원,병득출저사민감결구단원적단입자번전、단입자공능중단、단입자산쇄적검측방식,최후대SRAM형FPGA단입자효응평고연구적발전추세주료간요총결.
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