光电工程
光電工程
광전공정
OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING
2011年
7期
54-58
,共5页
CCD饱和效应%有限元分析%暗电流%像元饱和阈值%温度影响
CCD飽和效應%有限元分析%暗電流%像元飽和閾值%溫度影響
CCD포화효응%유한원분석%암전류%상원포화역치%온도영향
采用1.06 μm的连续激光对可见光CCD成像系统进行干扰实验,依次观察到了饱和串扰、串扰亮线加粗全屏饱和与全屏布满黑白雪花点的实验现象.利用有限元分析的方法对实验中的探测器升温情况进行模拟计算.并通过数值分析,发现随着温度的升高,暗电流不断增大,当温度超过350 K时,增大的速度显著上升;像元的饱和阈值相应地减小,当温度达到350 K时,其数值就已经减为零.根据模拟升温的大小,结合温度升高时探测器暗电流、像元饱和阈值的变化,对实验现象进行了合理的解释.结果表明:除了考虑光电转换产生的光电子以外,由于激光辐照导致探测器表面升温,进而引起暗电流增大和像元饱和阈值减小,是CCD产生饱和效应的重要影响因素.
採用1.06 μm的連續激光對可見光CCD成像繫統進行榦擾實驗,依次觀察到瞭飽和串擾、串擾亮線加粗全屏飽和與全屏佈滿黑白雪花點的實驗現象.利用有限元分析的方法對實驗中的探測器升溫情況進行模擬計算.併通過數值分析,髮現隨著溫度的升高,暗電流不斷增大,噹溫度超過350 K時,增大的速度顯著上升;像元的飽和閾值相應地減小,噹溫度達到350 K時,其數值就已經減為零.根據模擬升溫的大小,結閤溫度升高時探測器暗電流、像元飽和閾值的變化,對實驗現象進行瞭閤理的解釋.結果錶明:除瞭攷慮光電轉換產生的光電子以外,由于激光輻照導緻探測器錶麵升溫,進而引起暗電流增大和像元飽和閾值減小,是CCD產生飽和效應的重要影響因素.
채용1.06 μm적련속격광대가견광CCD성상계통진행간우실험,의차관찰도료포화천우、천우량선가조전병포화여전병포만흑백설화점적실험현상.이용유한원분석적방법대실험중적탐측기승온정황진행모의계산.병통과수치분석,발현수착온도적승고,암전류불단증대,당온도초과350 K시,증대적속도현저상승;상원적포화역치상응지감소,당온도체도350 K시,기수치취이경감위령.근거모의승온적대소,결합온도승고시탐측기암전류、상원포화역치적변화,대실험현상진행료합리적해석.결과표명:제료고필광전전환산생적광전자이외,유우격광복조도치탐측기표면승온,진이인기암전류증대화상원포화역치감소,시CCD산생포화효응적중요영향인소.
