原子能科学技术
原子能科學技術
원자능과학기술
ATOMIC ENERGY SCIENCE AND TECHNOLOGY
2004年
z1期
231-235
,共5页
半导体%CMOS图像传感器%辐照效应%输出特性
半導體%CMOS圖像傳感器%輻照效應%輸齣特性
반도체%CMOS도상전감기%복조효응%수출특성
研究了数字型彩色CMOS图像传感器的γ射线辐照效应.采用不同γ射线注量进行积累辐照和单次辐照.积累辐照后捕获的图像在1.2 kGy时变得非常差,而单次辐照后图像在1.8 kGy时才变得非常差.积累辐照由于类似加电模式而比单次辐照时性能退化严重.
研究瞭數字型綵色CMOS圖像傳感器的γ射線輻照效應.採用不同γ射線註量進行積纍輻照和單次輻照.積纍輻照後捕穫的圖像在1.2 kGy時變得非常差,而單次輻照後圖像在1.8 kGy時纔變得非常差.積纍輻照由于類似加電模式而比單次輻照時性能退化嚴重.
연구료수자형채색CMOS도상전감기적γ사선복조효응.채용불동γ사선주량진행적루복조화단차복조.적루복조후포획적도상재1.2 kGy시변득비상차,이단차복조후도상재1.8 kGy시재변득비상차.적루복조유우유사가전모식이비단차복조시성능퇴화엄중.
