基于LabVIEW的芯片测试平台设计
기우LabVIEW적심편측시평태설계
Design of Chip Testing Platform Based on LabVIEW
  • 万方数据
    工业控制计算机 공업공제계산궤
    INDUSTRY CONTROL COMPUTER
    2010年 6期 25-26,28 ,共3页

    朱玉璟%钱桂芬%任大庆

    주옥경%전계분%임대경

    LabVIEW%芯片测试%图形化编程 LabVIEW%芯片測試%圖形化編程
    LabVIEW%심편측시%도형화편정
    基于图形化编程语言LabVIEW,设计了一种芯片测试平台,并详细介绍了其系统结构、功能以及设计中用到的相关技术,包括仪器的控制、事件结构,动态载入VI技术以及动态链接库DLL的调用.实践证明,应用此平台在较大程度上减轻了测试工程师的工作量,并大大缩短了芯片测试时间和产品开发周期.
    기우도형화편정어언LabVIEW,설계료일충심편측시평태,병상세개소료기계통결구、공능이급설계중용도적상관기술,포괄의기적공제、사건결구,동태재입VI기술이급동태련접고DLL적조용.실천증명,응용차평태재교대정도상감경료측시공정사적공작량,병대대축단료심편측시시간화산품개발주기.
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