现代电子技术
現代電子技術
현대전자기술
MODERN ELECTRONICS TECHNIQUE
2012年
22期
125-126,129
,共3页
晶体谐振器%失效分析%低温条件%频差测试
晶體諧振器%失效分析%低溫條件%頻差測試
정체해진기%실효분석%저온조건%빈차측시
在计算机的实验中,晶体在温度试验条件下,性能不稳定,导致计算机无法正常工作.通过对晶体的失效分析,确定了晶体失效的原因.结果表明:由于晶体谐振器内部晶片的形成结构异常造成晶体谐振器与振荡电路不能相互匹配,因而在低温条件下表现出来,这种晶体谐振器内部晶片结构异常是导致计算机无法正常工作的原因.通过对晶体谐振器进行温度频差测试,发现晶体谐振器早期失效问题,可解决这一问题,验证试验表明这一措施有效、可行.
在計算機的實驗中,晶體在溫度試驗條件下,性能不穩定,導緻計算機無法正常工作.通過對晶體的失效分析,確定瞭晶體失效的原因.結果錶明:由于晶體諧振器內部晶片的形成結構異常造成晶體諧振器與振盪電路不能相互匹配,因而在低溫條件下錶現齣來,這種晶體諧振器內部晶片結構異常是導緻計算機無法正常工作的原因.通過對晶體諧振器進行溫度頻差測試,髮現晶體諧振器早期失效問題,可解決這一問題,驗證試驗錶明這一措施有效、可行.
재계산궤적실험중,정체재온도시험조건하,성능불은정,도치계산궤무법정상공작.통과대정체적실효분석,학정료정체실효적원인.결과표명:유우정체해진기내부정편적형성결구이상조성정체해진기여진탕전로불능상호필배,인이재저온조건하표현출래,저충정체해진기내부정편결구이상시도치계산궤무법정상공작적원인.통과대정체해진기진행온도빈차측시,발현정체해진기조기실효문제,가해결저일문제,험증시험표명저일조시유효、가행.
