半导体光电
半導體光電
반도체광전
SEMICONDUCTOR OPTOELECTRONICS
2008年
2期
308-312
,共5页
楚兴春%占生宝%赵尚弘%胥杰%吴卓亮
楚興春%佔生寶%趙尚弘%胥傑%吳卓亮
초흥춘%점생보%조상홍%서걸%오탁량
激光技术%光纤激光阵列%相干组束%位相检测%条纹图
激光技術%光纖激光陣列%相榦組束%位相檢測%條紋圖
격광기술%광섬격광진렬%상간조속%위상검측%조문도
针对光纤激光阵列相干组束中各路光束位相的检测,提出了一种基于快速傅里叶变换的位相检测方法.该方法不需对参考光进行频移,利用各路光束与参考光束间位相变化引起的条纹图移动实现位相检测.同时,为了减小傅里叶变换过程中由于能量泄漏引入的检相误差,提出了条纹图整周期裁剪的方法,用于克服能量泄漏的影响,可有效提高傅里叶变换法的检相精度.文中详述了位相检测的基本原理,分析了能量泄漏对傅里叶变换的影响,数值计算结果表明该方法的检相误差优于光波长的1/1000,从而为光纤激光阵列的高精度位相调节奠定了基础.
針對光纖激光陣列相榦組束中各路光束位相的檢測,提齣瞭一種基于快速傅裏葉變換的位相檢測方法.該方法不需對參攷光進行頻移,利用各路光束與參攷光束間位相變化引起的條紋圖移動實現位相檢測.同時,為瞭減小傅裏葉變換過程中由于能量洩漏引入的檢相誤差,提齣瞭條紋圖整週期裁剪的方法,用于剋服能量洩漏的影響,可有效提高傅裏葉變換法的檢相精度.文中詳述瞭位相檢測的基本原理,分析瞭能量洩漏對傅裏葉變換的影響,數值計算結果錶明該方法的檢相誤差優于光波長的1/1000,從而為光纖激光陣列的高精度位相調節奠定瞭基礎.
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