JEM-2000FX电镜电子束发生系统故障分析及检修
JEM-2000FX전경전자속발생계통고장분석급검수
Fault analysis and maintenance of electron gun and high voltage supply system in JEM-2000FX TEM
  • 万方数据
    电子显微学报 전자현미학보
    JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY
    2001年 4期 428-429 ,共2页

    马通达%孙继光%张希顺%陈朝相

    마통체%손계광%장희순%진조상





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