50例微波器件失效分析结果汇总与分析
50례미파기건실효분석결과회총여분석
A Review of Fifty Failure Analysis Cases of Microwave Devices
  • 万方数据
    固体电子学研究与进展 고체전자학연구여진전
    RESEARCH & PROGRESS OF SOLID STATE ELECTRONICS
    2005年 4期 475-480 ,共6页

    来萍%李萍%张晓明%李少平%徐爱斌%施明哲%牛付林%郑廷珪

    래평%리평%장효명%리소평%서애빈%시명철%우부림%정정규

    微波器件%失效分析%汇总分析 微波器件%失效分析%彙總分析
    미파기건%실효분석%회총분석
    对约50例微波器件失效分析结果进行了汇总和分析,阐述了微波器件在使用中失效的主要原因、分类及其分布.汇总情况表明,由于器件本身质量和可靠性导致的失效约占80%,其余20%是使用不当造成的.在器件本身的质量和可靠性问题方面,具体失效机理有引线键合不良、芯片缺陷(包括沾污、裂片、工艺结构缺陷等)、芯片粘结、管壳缺陷、胶使用不当等;在使用不当方面,主要是静电放电(ESD)损伤和过电损伤(EOS),EOS损伤中包括输出端失配、加电顺序等操作不当引入的过电应力等.
    대약50례미파기건실효분석결과진행료회총화분석,천술료미파기건재사용중실효적주요원인、분류급기분포.회총정황표명,유우기건본신질량화가고성도치적실효약점80%,기여20%시사용불당조성적.재기건본신적질량화가고성문제방면,구체실효궤리유인선건합불량、심편결함(포괄첨오、렬편、공예결구결함등)、심편점결、관각결함、효사용불당등;재사용불당방면,주요시정전방전(ESD)손상화과전손상(EOS),EOS손상중포괄수출단실배、가전순서등조작불당인입적과전응력등.
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