CAJ | 학술논문

电子总含量(TEC)是电离层探测的主要参量之一,作为层析(CT)的输入参量,TEC测量精度直接影响电离层CT成像的结果.过去主要采用双频信标测量TEC,由于相位积分常数的求解、系统硬件延迟等误差,使得TEC测量结果不能满足电离层CT高精度重建成像的要求.三频相干信标技术的出现,使得电离层天基测量技术有了新的发展.提出了基于三频信标的传播时延-相位联合测量反演TEC的方法,融合三频信标在电子密度随机起伏探测和相位积分常数计算两方面的优势,进一步提高了TEC的测量精度.模拟结果显示利用此方法的三频信标TEC测量结果提高了电离层CT的精度.
전자총함량(TEC)시전리층탐측적주요삼량지일,작위층석(CT)적수입삼량,TEC측량정도직접영향전리층CT성상적결과.과거주요채용쌍빈신표측량TEC,유우상위적분상수적구해、계통경건연지등오차,사득TEC측량결과불능만족전리층CT고정도중건성상적요구.삼빈상간신표기술적출현,사득전리층천기측량기술유료신적발전.제출료기우삼빈신표적전파시연-상위연합측량반연TEC적방법,융합삼빈신표재전자밀도수궤기복탐측화상위적분상수계산량방면적우세,진일보제고료TEC적측량정도.모의결과현시이용차방법적삼빈신표TEC측량결과제고료전리층CT적정도.