电子元件与材料
電子元件與材料
전자원건여재료
ELECTRONIC COMPONENTS & MATERIALS
2012年
1期
4-7
,共4页
微晶玻璃%制备%Rietveld法%分峰法
微晶玻璃%製備%Rietveld法%分峰法
미정파리%제비%Rietveld법%분봉법
在850℃下制备了Zr掺杂CaO-B2O3-SiO2( CBS)微晶玻璃.采用Rietveld全谱拟合法分析了所制微晶玻璃中各结晶相的相对含量,以及分峰法计算得到微晶玻璃的结晶度,从而分析出Zr掺杂CBS微晶玻璃中各结晶相的含量.与内标法计算结果比较,该方法计算得到的结晶度相对误差为1.35％,结晶相绝对含量的最大相对误差为5.47％.该方法可用于定量分析含有结晶相和非晶相的其他多组分材料,为其提供理论分析的依据.
在850℃下製備瞭Zr摻雜CaO-B2O3-SiO2( CBS)微晶玻璃.採用Rietveld全譜擬閤法分析瞭所製微晶玻璃中各結晶相的相對含量,以及分峰法計算得到微晶玻璃的結晶度,從而分析齣Zr摻雜CBS微晶玻璃中各結晶相的含量.與內標法計算結果比較,該方法計算得到的結晶度相對誤差為1.35％,結晶相絕對含量的最大相對誤差為5.47％.該方法可用于定量分析含有結晶相和非晶相的其他多組分材料,為其提供理論分析的依據.
재850℃하제비료Zr참잡CaO-B2O3-SiO2( CBS)미정파리.채용Rietveld전보의합법분석료소제미정파리중각결정상적상대함량,이급분봉법계산득도미정파리적결정도,종이분석출Zr참잡CBS미정파리중각결정상적함량.여내표법계산결과비교,해방법계산득도적결정도상대오차위1.35％,결정상절대함량적최대상대오차위5.47％.해방법가용우정량분석함유결정상화비정상적기타다조분재료,위기제공이론분석적의거.
