核电子学与探测技术
覈電子學與探測技術
핵전자학여탐측기술
NUCLEAR ELECTRONICS & DETECTION TECHNOLOGY
2010年
9期
1191-1195
,共5页
倪建忠%刘杰%张佳媚%解峰%师全林%余功硕
倪建忠%劉傑%張佳媚%解峰%師全林%餘功碩
예건충%류걸%장가미%해봉%사전림%여공석
123Xe%气体裂变产物%HPGe%MCNP
123Xe%氣體裂變產物%HPGe%MCNP
123Xe%기체렬변산물%HPGe%MCNP
利用MCNP模拟计算了大量气体裂变产物中微量123Xe的HPGe γ能谱,分析了气体裂变产物对122Xe测量的影响,结果表明:直接测量气体样品中的123Xe是不可能的,但可以通过测量其子体123I来推算123Xe,推荐的测量方法是:对原始气体样品不做Kr/Xe分离,衰变6.59 h后,将气体去除,再衰变2 h后,采用HPGe测量123I.
利用MCNP模擬計算瞭大量氣體裂變產物中微量123Xe的HPGe γ能譜,分析瞭氣體裂變產物對122Xe測量的影響,結果錶明:直接測量氣體樣品中的123Xe是不可能的,但可以通過測量其子體123I來推算123Xe,推薦的測量方法是:對原始氣體樣品不做Kr/Xe分離,衰變6.59 h後,將氣體去除,再衰變2 h後,採用HPGe測量123I.
이용MCNP모의계산료대량기체렬변산물중미량123Xe적HPGe γ능보,분석료기체렬변산물대122Xe측량적영향,결과표명:직접측량기체양품중적123Xe시불가능적,단가이통과측량기자체123I래추산123Xe,추천적측량방법시:대원시기체양품불주Kr/Xe분리,쇠변6.59 h후,장기체거제,재쇠변2 h후,채용HPGe측량123I.
