基于椭偏光谱仪的石英晶体1310nm处双折射率的精密测量
기우타편광보의적석영정체1310nm처쌍절사솔적정밀측량
Precision Measurement of the Birefringence of Quartz Crystal at 1 310 nm Based on the Spectroscopic Ellipsometer
  • 万方数据
    光谱学与光谱分析 광보학여광보분석
    SPECTROSCOPY AND SPECTRAL ANALYSIS
    2012年 4期 1142-1144 ,共3页

    韩培高%郝殿中%宋连科%苏富芳%史萌%吕廷芬%吴福全%李国华

    한배고%학전중%송련과%소부방%사맹%려정분%오복전%리국화

    晶体光学%双折射率%椭偏光谱仪%石英%1310 nm 晶體光學%雙摺射率%橢偏光譜儀%石英%1310 nm
    정체광학%쌍절사솔%타편광보의%석영%1310 nm
    为了对石英晶体在通讯波段1 310 nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模式下,通过对琼斯矩阵的分析,设计了一种精密测量晶体双折射率的方法,并在室温(22℃)下对通讯波段1 310 nm处石英晶体的双折射率进行了精密测量,测量结果和对误差的分析显示,此方法给出的双折射率测量值的精度高达10-6量级,为目前可查阅的最高精度,对于提高石英晶体相位延迟器件的设计精度具有重要的意义.
    위료대석영정체재통신파단1 310 nm처적쌍절사솔진행정밀측량,기우타편광보의대P화S량방향상편진광상위차적정밀측량원리,재투사모식하,통과대경사구진적분석,설계료일충정밀측량정체쌍절사솔적방법,병재실온(22℃)하대통신파단1 310 nm처석영정체적쌍절사솔진행료정밀측량,측량결과화대오차적분석현시,차방법급출적쌍절사솔측량치적정도고체10-6량급,위목전가사열적최고정도,대우제고석영정체상위연지기건적설계정도구유중요적의의.
    원문보기 원문다운로드 사이트로이동
저자의 최근 논문