半导体技术
半導體技術
반도체기술
SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY
2011年
9期
730-733
,共4页
寿命预测%最小二乘支持向量机%元器件%小子样%失效时间
壽命預測%最小二乘支持嚮量機%元器件%小子樣%失效時間
수명예측%최소이승지지향량궤%원기건%소자양%실효시간
现代高可靠元器件在寿命试验时会出现失效数据很少的小子样情形,而传统的可靠性评估方法需要大量的失效数据,针对此情况,从工程实践的实际需求出发,提出了基于最小二乘支持向量机的小子样元器件寿命预测方法.该方法通过建立最小二乘支持向量机模型,从而可根据已知元器件的失效时间去直接预测同一批未失效元器件的失效时间.将该方法应用于热载流子效应引起MOS管退化失效的加速寿命试验中进行MOS管失效时间的预测,结果表明基于最小二乘支持向量机的寿命预测方法在进行小子样元器件的寿命预测时具有很高的精确度.
現代高可靠元器件在壽命試驗時會齣現失效數據很少的小子樣情形,而傳統的可靠性評估方法需要大量的失效數據,針對此情況,從工程實踐的實際需求齣髮,提齣瞭基于最小二乘支持嚮量機的小子樣元器件壽命預測方法.該方法通過建立最小二乘支持嚮量機模型,從而可根據已知元器件的失效時間去直接預測同一批未失效元器件的失效時間.將該方法應用于熱載流子效應引起MOS管退化失效的加速壽命試驗中進行MOS管失效時間的預測,結果錶明基于最小二乘支持嚮量機的壽命預測方法在進行小子樣元器件的壽命預測時具有很高的精確度.
현대고가고원기건재수명시험시회출현실효수거흔소적소자양정형,이전통적가고성평고방법수요대량적실효수거,침대차정황,종공정실천적실제수구출발,제출료기우최소이승지지향량궤적소자양원기건수명예측방법.해방법통과건립최소이승지지향량궤모형,종이가근거이지원기건적실효시간거직접예측동일비미실효원기건적실효시간.장해방법응용우열재류자효응인기MOS관퇴화실효적가속수명시험중진행MOS관실효시간적예측,결과표명기우최소이승지지향량궤적수명예측방법재진행소자양원기건적수명예측시구유흔고적정학도.
