半导体学报
半導體學報
반도체학보
CHINESE JOURNAL OF SEMICONDUCTORS
2006年
4期
591-597
,共7页
王天兴%魏红祥%任聪%韩秀峰%Clifford E%Langford R M%Bari M A%Coey J M D
王天興%魏紅祥%任聰%韓秀峰%Clifford E%Langford R M%Bari M A%Coey J M D
왕천흥%위홍상%임총%한수봉%Clifford E%Langford R M%Bari M A%Coey J M D
点接触安德鲁反射%可控的%自旋极化
點接觸安德魯反射%可控的%自鏇極化
점접촉안덕로반사%가공적%자선겁화
point contact Andreev reflection%controllable%spin polarization
提供了一种用于安德鲁反射测量样品制备新方法.该方法采用聚焦粒子束刻蚀和磁控溅射,可以获得可控的、干净的、无应力的纳米接触用于自旋极化探测.所制备的样品中,磁性和非磁性材料样品的反射谱都表现出复杂的峰和谷结构,这些结构可能源于与界面相关的零偏压反常以及与激发态相关的准离子相互作用.对另一个Co40Fe40B20合金样品采用简单的钕针尖压针方法进行了对比性测量,反射谱中没有观察到谷结构,但谱结构出现较明显的热扩展,这种热扩展可能来源于界面处的非弹性输运.所有的反射谱目前还不能由现有的理论给出令人满意的解释.利用点接触反射方法获得可靠的自旋极化信息还有赖于接触界面特征的进一步分析.而一个更切合实际的、更完善的理论成为迫切的需要.
提供瞭一種用于安德魯反射測量樣品製備新方法.該方法採用聚焦粒子束刻蝕和磁控濺射,可以穫得可控的、榦淨的、無應力的納米接觸用于自鏇極化探測.所製備的樣品中,磁性和非磁性材料樣品的反射譜都錶現齣複雜的峰和穀結構,這些結構可能源于與界麵相關的零偏壓反常以及與激髮態相關的準離子相互作用.對另一箇Co40Fe40B20閤金樣品採用簡單的釹針尖壓針方法進行瞭對比性測量,反射譜中沒有觀察到穀結構,但譜結構齣現較明顯的熱擴展,這種熱擴展可能來源于界麵處的非彈性輸運.所有的反射譜目前還不能由現有的理論給齣令人滿意的解釋.利用點接觸反射方法穫得可靠的自鏇極化信息還有賴于接觸界麵特徵的進一步分析.而一箇更切閤實際的、更完善的理論成為迫切的需要.
제공료일충용우안덕로반사측량양품제비신방법.해방법채용취초입자속각식화자공천사,가이획득가공적、간정적、무응력적납미접촉용우자선겁화탐측.소제비적양품중,자성화비자성재료양품적반사보도표현출복잡적봉화곡결구,저사결구가능원우여계면상관적령편압반상이급여격발태상관적준리자상호작용.대령일개Co40Fe40B20합금양품채용간단적녀침첨압침방법진행료대비성측량,반사보중몰유관찰도곡결구,단보결구출현교명현적열확전,저충열확전가능래원우계면처적비탄성수운.소유적반사보목전환불능유현유적이론급출령인만의적해석.이용점접촉반사방법획득가고적자선겁화신식환유뢰우접촉계면특정적진일보분석.이일개경절합실제적、경완선적이론성위박절적수요.
A new method of nanocontact fabrication for Adreev reflection measurement based on the nanopore method using a SiN membrane with focused ion beam technique is presented. With this method, controllable,clean,tensionless nano-contacts for spin polarization probing can be obtained. Measurements of the fabricated samples show complicated spectral structures with a zero bias anomaly and dip structures from quasipartical interactions. A control sample of Co40 Fe40 B20 is measured with Nb tip method. None of the measured spectra can be explained satisfactorily by present theory. Further analysis of the contact interface and a more complete theory are needed to extract a reliable spin polarization message with the point contact Andreev reflection method.