电子质量
電子質量
전자질량
ELECTRONICS QUALITY
2003年
8期
51-52
,共2页
微波开关电路%失效分析%静电损伤
微波開關電路%失效分析%靜電損傷
미파개관전로%실효분석%정전손상
本文介绍了对AS169型微波开关电路进行的失效分析.采用了直流测试、射频测试、样品解剖、芯片观察、电路分析以及实验验证等一系列技术手段,成功地确定了样品的失效原因是在装配和测试阶段因静电放电(ESD)而导致电路损伤和失效.
本文介紹瞭對AS169型微波開關電路進行的失效分析.採用瞭直流測試、射頻測試、樣品解剖、芯片觀察、電路分析以及實驗驗證等一繫列技術手段,成功地確定瞭樣品的失效原因是在裝配和測試階段因靜電放電(ESD)而導緻電路損傷和失效.
본문개소료대AS169형미파개관전로진행적실효분석.채용료직류측시、사빈측시、양품해부、심편관찰、전로분석이급실험험증등일계렬기술수단,성공지학정료양품적실효원인시재장배화측시계단인정전방전(ESD)이도치전로손상화실효.
