电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2010年
7期
24-27
,共4页
可靠性%动态老化%FPGA%配置
可靠性%動態老化%FPGA%配置
가고성%동태노화%FPGA%배치
近年来,随着FPGA电路在军工和航天领域的广泛应用,用户对FPGA电路的可靠性要求也越来越高.在集成电路的可靠性评估试验中,动态老化试验是最重要的试验之一,FPGA动态老化技术的实现可以提高FPGA电路的可靠性.文章通过研究FPGA电路内部结构和功能模块,讨论FPGA电路加载配置过程的原理和流程,通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析,研究出FPGA电路动态老化试验方法,并在工程实践中得到了成功实现和应用.
近年來,隨著FPGA電路在軍工和航天領域的廣汎應用,用戶對FPGA電路的可靠性要求也越來越高.在集成電路的可靠性評估試驗中,動態老化試驗是最重要的試驗之一,FPGA動態老化技術的實現可以提高FPGA電路的可靠性.文章通過研究FPGA電路內部結構和功能模塊,討論FPGA電路加載配置過程的原理和流程,通過對動態老化和靜態老化的對比試驗和結果分析,研究齣FPGA電路動態老化試驗方法,併在工程實踐中得到瞭成功實現和應用.
근년래,수착FPGA전로재군공화항천영역적엄범응용,용호대FPGA전로적가고성요구야월래월고.재집성전로적가고성평고시험중,동태노화시험시최중요적시험지일,FPGA동태노화기술적실현가이제고FPGA전로적가고성.문장통과연구FPGA전로내부결구화공능모괴,토론FPGA전로가재배치과정적원리화류정,통과대동태노화화정태노화적대비시험화결과분석,연구출FPGA전로동태노화시험방법,병재공정실천중득도료성공실현화응용.
