电子工业专用设备
電子工業專用設備
전자공업전용설비
EQUIPMENT FOR ELECTRONIC PRODUCTS MANUFACTURING
2010年
3期
39-42,46
,共5页
SiP%系统集成封装%T2000
SiP%繫統集成封裝%T2000
SiP%계통집성봉장%T2000
随着SiP系统集成封装越来越广泛的应用,SiP在ATE上的测试面临诸多挑战.通过各种Module的灵活搭配,ADVANTEST T2000测试系统可以提供针对SiP芯片级封装的各个die/chip的功能特性测试,在一个测试平台上完成整个测试的解决方案.并且T2000架构凭借灵活的开放式框架,丰富的测试资源,高效的并行测试构架,人性化的操作界面,以及先进的测试理念为SiP测试提供了更好的低成本解决方案.
隨著SiP繫統集成封裝越來越廣汎的應用,SiP在ATE上的測試麵臨諸多挑戰.通過各種Module的靈活搭配,ADVANTEST T2000測試繫統可以提供針對SiP芯片級封裝的各箇die/chip的功能特性測試,在一箇測試平檯上完成整箇測試的解決方案.併且T2000架構憑藉靈活的開放式框架,豐富的測試資源,高效的併行測試構架,人性化的操作界麵,以及先進的測試理唸為SiP測試提供瞭更好的低成本解決方案.
수착SiP계통집성봉장월래월엄범적응용,SiP재ATE상적측시면림제다도전.통과각충Module적령활탑배,ADVANTEST T2000측시계통가이제공침대SiP심편급봉장적각개die/chip적공능특성측시,재일개측시평태상완성정개측시적해결방안.병차T2000가구빙차령활적개방식광가,봉부적측시자원,고효적병행측시구가,인성화적조작계면,이급선진적측시이념위SiP측시제공료경호적저성본해결방안.
