CAJ | 학술논문

介绍了衍射散射式颗粒粒度测量法的基本光路结构和理论模型,讨论了决定其性能优劣的重要指标--测量下限,对影响测量下限向小粒径范围延伸的参数进行了分析.继而介绍了近年来国内外主要粒度仪品牌在光学结构和散射理论模型方面所做的改进,阐述了它们的工作原理和性能特点.最后对衍射散射式颗粒粒度测量法的发展前景做出了展望,从修正理论模型、改进反演算法、提高探测器性能、缩小测量系统体积等几个角度提出了改进的想法和实例,并介绍了一种称为后向散射光谱傅里叶分析法的新方法,此方法有望大幅延伸测量下限.
개소료연사산사식과립립도측량법적기본광로결구화이론모형,토론료결정기성능우렬적중요지표--측량하한,대영향측량하한향소립경범위연신적삼수진행료분석.계이개소료근년래국내외주요립도의품패재광학결구화산사이론모형방면소주적개진,천술료타문적공작원리화성능특점.최후대연사산사식과립립도측량법적발전전경주출료전망,종수정이론모형、개진반연산법、제고탐측기성능、축소측량계통체적등궤개각도제출료개진적상법화실례,병개소료일충칭위후향산사광보부리협분석법적신방법,차방법유망대폭연신측량하한.