计算机测量与控制
計算機測量與控製
계산궤측량여공제
COMPUTER MEASUREMENT & CONTROL
2012年
9期
2350-2352
,共3页
片上系统%嵌入式DRAM%内建自测试%循环移位寄存器
片上繫統%嵌入式DRAM%內建自測試%循環移位寄存器
편상계통%감입식DRAM%내건자측시%순배이위기존기
内建自测试(Built-in Self Test,BIST)是测试片上系统(System on- Chip,SoC)中嵌入式存储器的重要技术；但是,利用BIST技术采用多种算法对嵌入式存储器进行测试仍面临诸多挑战；对此,提出了一种基于SoC的可以带有多种测试算法的嵌入式DRAM存储器BIST设计,所设计的测试电路可以复用状态机的状态,利用循环移位寄存器(Cyclic Shift Register,CSR)产生操作命令,利用地址产生电路产生所需地址；通过对3种BIST电路支持的算法,全速测试,面积开销3个方面的比较,表明提出的嵌入式DRAM存储器BIST设计在测试时间,测试故障覆盖率和测试面积开销等各方面都取得了较好的性能.
內建自測試(Built-in Self Test,BIST)是測試片上繫統(System on- Chip,SoC)中嵌入式存儲器的重要技術；但是,利用BIST技術採用多種算法對嵌入式存儲器進行測試仍麵臨諸多挑戰；對此,提齣瞭一種基于SoC的可以帶有多種測試算法的嵌入式DRAM存儲器BIST設計,所設計的測試電路可以複用狀態機的狀態,利用循環移位寄存器(Cyclic Shift Register,CSR)產生操作命令,利用地阯產生電路產生所需地阯；通過對3種BIST電路支持的算法,全速測試,麵積開銷3箇方麵的比較,錶明提齣的嵌入式DRAM存儲器BIST設計在測試時間,測試故障覆蓋率和測試麵積開銷等各方麵都取得瞭較好的性能.
내건자측시(Built-in Self Test,BIST)시측시편상계통(System on- Chip,SoC)중감입식존저기적중요기술；단시,이용BIST기술채용다충산법대감입식존저기진행측시잉면림제다도전；대차,제출료일충기우SoC적가이대유다충측시산법적감입식DRAM존저기BIST설계,소설계적측시전로가이복용상태궤적상태,이용순배이위기존기(Cyclic Shift Register,CSR)산생조작명령,이용지지산생전로산생소수지지；통과대3충BIST전로지지적산법,전속측시,면적개소3개방면적비교,표명제출적감입식DRAM존저기BIST설계재측시시간,측시고장복개솔화측시면적개소등각방면도취득료교호적성능.
