电子器件
電子器件
전자기건
JOURNAL OF ELECTRON DEVICES
2013年
4期
580-584
,共5页
串行通信%循环冗余校验%查表法%现场可编程门阵列%IP核
串行通信%循環冗餘校驗%查錶法%現場可編程門陣列%IP覈
천행통신%순배용여교험%사표법%현장가편정문진렬%IP핵
serial communication%CRC (Cyclic Redundancy Check)%look-up table method%Field Programmable Gate Array (FPGA)%IP core
针对串行通信过程中常用的CRC校验,在Xilinx ISE 10.1中采用IP核建立RAM,用以存入16 bit CRC校验余式表中的CRC校验码,采用VHDL语言完成了16 bit CRC校验查表法的设计.基于Xilinx公司ChipScope Pro Analyzer虚拟逻辑分析仪,对其进行在线逻辑分析,验证了设计的可行性,并在实际应用中得以实现,且表现出良好的稳定性和准确性.
針對串行通信過程中常用的CRC校驗,在Xilinx ISE 10.1中採用IP覈建立RAM,用以存入16 bit CRC校驗餘式錶中的CRC校驗碼,採用VHDL語言完成瞭16 bit CRC校驗查錶法的設計.基于Xilinx公司ChipScope Pro Analyzer虛擬邏輯分析儀,對其進行在線邏輯分析,驗證瞭設計的可行性,併在實際應用中得以實現,且錶現齣良好的穩定性和準確性.
침대천행통신과정중상용적CRC교험,재Xilinx ISE 10.1중채용IP핵건립RAM,용이존입16 bit CRC교험여식표중적CRC교험마,채용VHDL어언완성료16 bit CRC교험사표법적설계.기우Xilinx공사ChipScope Pro Analyzer허의라집분석의,대기진행재선라집분석,험증료설계적가행성,병재실제응용중득이실현,차표현출량호적은정성화준학성.