电子测量技术
電子測量技術
전자측량기술
ELECTRONIC MEASUREMENT TECHNOLOGY
2014年
7期
14-16
,共3页
Cortex-M3%数控电阻%恒流源%电阻测量
Cortex-M3%數控電阻%恆流源%電阻測量
Cortex-M3%수공전조%항류원%전조측량
Cortex-M3%NC%resistance%constant%current%source%resistan0ce%measurement
设计了一种高精度可自动调整量程的电阻测量仪.本测量仪采用高稳定性的2 mA恒流源作为激励加载在待测电阻上,并利用由数控电阻MAX5400构成的数控放大模块对待测电阻两端的电压进行放大,最后由基于ARMCortex-M3内核的STM32F103RE微控制器内部的ADC对放大后的电压进行A/D采样变换,从而计算出待测电阻阻值.微控制器可以通过SPI总线对数控电阻进行控制,从而改变数控放大模块的放大倍数,根据待测电阻自动的改变测量量程.试验表明,本文设计的测量仪大大提高电阻测量精度,误差小于1％.
設計瞭一種高精度可自動調整量程的電阻測量儀.本測量儀採用高穩定性的2 mA恆流源作為激勵加載在待測電阻上,併利用由數控電阻MAX5400構成的數控放大模塊對待測電阻兩耑的電壓進行放大,最後由基于ARMCortex-M3內覈的STM32F103RE微控製器內部的ADC對放大後的電壓進行A/D採樣變換,從而計算齣待測電阻阻值.微控製器可以通過SPI總線對數控電阻進行控製,從而改變數控放大模塊的放大倍數,根據待測電阻自動的改變測量量程.試驗錶明,本文設計的測量儀大大提高電阻測量精度,誤差小于1％.
설계료일충고정도가자동조정량정적전조측량의.본측량의채용고은정성적2 mA항류원작위격려가재재대측전조상,병이용유수공전조MAX5400구성적수공방대모괴대대측전조량단적전압진행방대,최후유기우ARMCortex-M3내핵적STM32F103RE미공제기내부적ADC대방대후적전압진행A/D채양변환,종이계산출대측전조조치.미공제기가이통과SPI총선대수공전조진행공제,종이개변수공방대모괴적방대배수,근거대측전조자동적개변측량량정.시험표명,본문설계적측량의대대제고전조측량정도,오차소우1％.
