电子技术应用
電子技術應用
전자기술응용
APPLICATION OF ELECTRONIC TECHNIQUE
2014年
8期
116-118
,共3页
单粒子翻转%MIMO检测%SEC-DED%三模冗余
單粒子翻轉%MIMO檢測%SEC-DED%三模冗餘
단입자번전%MIMO검측%SEC-DED%삼모용여
single%event%upset%MIMO%detection%SEC-DED%TMR
针对星载平台抗单粒子翻转(SEU)问题,提出一种基于SEC-DED思想的低开销抗SEU星载MIMO检测算法,通过对MIMO检测算法的乘积运算分割和扩展校验,实现自检错与自纠错功能.该方法以较少的资源占用率,获得系统可靠性的整体提升.
針對星載平檯抗單粒子翻轉(SEU)問題,提齣一種基于SEC-DED思想的低開銷抗SEU星載MIMO檢測算法,通過對MIMO檢測算法的乘積運算分割和擴展校驗,實現自檢錯與自糾錯功能.該方法以較少的資源佔用率,穫得繫統可靠性的整體提升.
침대성재평태항단입자번전(SEU)문제,제출일충기우SEC-DED사상적저개소항SEU성재MIMO검측산법,통과대MIMO검측산법적승적운산분할화확전교험,실현자검착여자규착공능.해방법이교소적자원점용솔,획득계통가고성적정체제승.
