真空电子技术
真空電子技術
진공전자기술
VACUUM ELECTRONICS
2013年
3期
54-56
,共3页
行波管%阴极寿命%短管结构%常规寿命试验
行波管%陰極壽命%短管結構%常規壽命試驗
행파관%음겁수명%단관결구%상규수명시험
TWT%Cathode Life%Brief tube Structure%General life test
微波器件的寿命往往取决于阴极的寿命,做好阴极寿命的测试是非常必要的.本文选择了常规寿命试验的方式,采用了阳控枪和水冷收集极的短管结构,在阴极工作温度1020℃、脉冲工作比10％、初始发射电流6A/cm2电流密度的状态下,进行行波管阴极寿命试验.截止目前,该试验还在进行中,累积寿命时间达8200h.
微波器件的壽命往往取決于陰極的壽命,做好陰極壽命的測試是非常必要的.本文選擇瞭常規壽命試驗的方式,採用瞭暘控鎗和水冷收集極的短管結構,在陰極工作溫度1020℃、脈遲工作比10％、初始髮射電流6A/cm2電流密度的狀態下,進行行波管陰極壽命試驗.截止目前,該試驗還在進行中,纍積壽命時間達8200h.
미파기건적수명왕왕취결우음겁적수명,주호음겁수명적측시시비상필요적.본문선택료상규수명시험적방식,채용료양공창화수랭수집겁적단관결구,재음겁공작온도1020℃、맥충공작비10％、초시발사전류6A/cm2전류밀도적상태하,진행행파관음겁수명시험.절지목전,해시험환재진행중,루적수명시간체8200h.
