企业技术开发（下半月）
企業技術開髮（下半月）
기업기술개발（하반월）
TECHNOLOGICAL DEVELOPMENT OF ENTERPRISE
2014年
8期
9-10
,共2页
存储器%测试算法%诊断覆盖率
存儲器%測試算法%診斷覆蓋率
존저기%측시산법%진단복개솔
随着微电子技术的快速进步，半导体集成电路高速发展，新的存储器测试技术也不断更新。文章描述了存储器的经典测试算法运算过程，并分析了其原理。在研究经典测试算法的基础上，吸收经典算法的思想，比较各种不同算法的优缺点，改进测试算法，以便在实际检测中能够减少测试所需要的时间，提高故障诊断覆盖率，达到比较满意的测试效果。
隨著微電子技術的快速進步，半導體集成電路高速髮展，新的存儲器測試技術也不斷更新。文章描述瞭存儲器的經典測試算法運算過程，併分析瞭其原理。在研究經典測試算法的基礎上，吸收經典算法的思想，比較各種不同算法的優缺點，改進測試算法，以便在實際檢測中能夠減少測試所需要的時間，提高故障診斷覆蓋率，達到比較滿意的測試效果。
수착미전자기술적쾌속진보，반도체집성전로고속발전，신적존저기측시기술야불단경신。문장묘술료존저기적경전측시산법운산과정，병분석료기원리。재연구경전측시산법적기출상，흡수경전산법적사상，비교각충불동산법적우결점，개진측시산법，이편재실제검측중능구감소측시소수요적시간，제고고장진단복개솔，체도비교만의적측시효과。
