电子测量技术
電子測量技術
전자측량기술
ELECTRONIC MEASUREMENT TECHNOLOGY
2014年
9期
70-78
,共9页
Flash型FPGA%单粒子效应%加固技术验证%自动测试
Flash型FPGA%單粒子效應%加固技術驗證%自動測試
Flash형FPGA%단입자효응%가고기술험증%자동측시
flash-based FPGA%single event effect%verification of hardening technology%automated test
通过分析Flash型FPGA芯片的基本结构和应用需求,设计了针对各个FPGA功能模块的试验方法,并实现了一套单粒子效应测试系统.对Actel ProASIC3系列Flash型FPGA进行单粒子翻转(SEU)、单粒子功能中断(SEFI)以及单粒子闩锁(SEL)等各类单粒子效应进行测试,并验证抗单粒子效应加固技术的有效性.测试系统包含硬件板卡设计、FPGA逻辑设计以及上位机软件设计等过程,并引入了自动测试技术优化测试流程.最终,测试系统能够满足单粒子效应试验的要求.
通過分析Flash型FPGA芯片的基本結構和應用需求,設計瞭針對各箇FPGA功能模塊的試驗方法,併實現瞭一套單粒子效應測試繫統.對Actel ProASIC3繫列Flash型FPGA進行單粒子翻轉(SEU)、單粒子功能中斷(SEFI)以及單粒子閂鎖(SEL)等各類單粒子效應進行測試,併驗證抗單粒子效應加固技術的有效性.測試繫統包含硬件闆卡設計、FPGA邏輯設計以及上位機軟件設計等過程,併引入瞭自動測試技術優化測試流程.最終,測試繫統能夠滿足單粒子效應試驗的要求.
통과분석Flash형FPGA심편적기본결구화응용수구,설계료침대각개FPGA공능모괴적시험방법,병실현료일투단입자효응측시계통.대Actel ProASIC3계렬Flash형FPGA진행단입자번전(SEU)、단입자공능중단(SEFI)이급단입자산쇄(SEL)등각류단입자효응진행측시,병험증항단입자효응가고기술적유효성.측시계통포함경건판잡설계、FPGA라집설계이급상위궤연건설계등과정,병인입료자동측시기술우화측시류정.최종,측시계통능구만족단입자효응시험적요구.
