现代应用物理
現代應用物理
현대응용물리
Modern Applie Physics
2013年
2期
144-151
,共8页
姚志斌%罗尹虹%陈伟%何宝平%张凤祁%郭红霞
姚誌斌%囉尹虹%陳偉%何寶平%張鳳祁%郭紅霞
요지빈%라윤홍%진위%하보평%장봉기%곽홍하
SDRAM%辐射效应%测试系统%刷新周期%总剂量效应%单粒子效应
SDRAM%輻射效應%測試繫統%刷新週期%總劑量效應%單粒子效應
SDRAM%복사효응%측시계통%쇄신주기%총제량효응%단입자효응
在分析SDRAM器件辐射失效现象的基础上,研制了具备读写功能测试、刷新周期测试及功耗电流测试三种功能的SDRAM辐射效应在线测试系统,并开展了SDRAM的总剂量效应实验研究.结果表明,总剂量效应会导致SDRAM器件的数据保持时间不断减小,功耗电流不断增大以及读写功能失效.实验样品MT48LC8M32B2的功能失效主要由外围控制电路造成,而非存储单元翻转.数据保持时间虽然随着辐照剂量的累积不断减小,但不是造成该器件功能失效的直接原因.
在分析SDRAM器件輻射失效現象的基礎上,研製瞭具備讀寫功能測試、刷新週期測試及功耗電流測試三種功能的SDRAM輻射效應在線測試繫統,併開展瞭SDRAM的總劑量效應實驗研究.結果錶明,總劑量效應會導緻SDRAM器件的數據保持時間不斷減小,功耗電流不斷增大以及讀寫功能失效.實驗樣品MT48LC8M32B2的功能失效主要由外圍控製電路造成,而非存儲單元翻轉.數據保持時間雖然隨著輻照劑量的纍積不斷減小,但不是造成該器件功能失效的直接原因.
재분석SDRAM기건복사실효현상적기출상,연제료구비독사공능측시、쇄신주기측시급공모전류측시삼충공능적SDRAM복사효응재선측시계통,병개전료SDRAM적총제량효응실험연구.결과표명,총제량효응회도치SDRAM기건적수거보지시간불단감소,공모전류불단증대이급독사공능실효.실험양품MT48LC8M32B2적공능실효주요유외위공제전로조성,이비존저단원번전.수거보지시간수연수착복조제량적루적불단감소,단불시조성해기건공능실효적직접원인.
