计算机科学
計算機科學
계산궤과학
COMPUTER SCIENCE
2014年
5期
55-58,90
,共5页
小时延缺陷%单通路敏化%非强健测试%跳变时延故障覆盖率%超速测试
小時延缺陷%單通路敏化%非彊健測試%跳變時延故障覆蓋率%超速測試
소시연결함%단통로민화%비강건측시%도변시연고장복개솔%초속측시
Small delay detect%Single sensitization criterion%Nonrobust test%Transition delay fault coverage%Faster than at-speed testing
面向小时延缺陷(small delay detect,SDDs)的测试产生方法不仅要求测试产生算法复杂度低,还要尽可能地检测到小时延缺陷.超速测试避免了因测试最长敏化通路而带来的测试效率过低的问题,而且它要求测试向量按敏化通路时延进行分组,对每组分配一个合适的超速测试频率,再采用一种可快速、准确选择特定长度的路径选择方法来有效地提高测试质量.同时,文中首次通过优先选用单通路敏化标准对短通路进行检测,对关键通路有选择地进行非强健测试,相对采用单一的敏化方法,能以很小的时间代价提高含有小时延缺陷的结点的跳变时延故障覆盖率(TDF).在ISCAS'89基准电路中对小时延缺陷的检测结果表明:用不同敏化方法进行测试产生,能在低的cpu时间里取得更高的跳变时延故障覆盖率.
麵嚮小時延缺陷(small delay detect,SDDs)的測試產生方法不僅要求測試產生算法複雜度低,還要儘可能地檢測到小時延缺陷.超速測試避免瞭因測試最長敏化通路而帶來的測試效率過低的問題,而且它要求測試嚮量按敏化通路時延進行分組,對每組分配一箇閤適的超速測試頻率,再採用一種可快速、準確選擇特定長度的路徑選擇方法來有效地提高測試質量.同時,文中首次通過優先選用單通路敏化標準對短通路進行檢測,對關鍵通路有選擇地進行非彊健測試,相對採用單一的敏化方法,能以很小的時間代價提高含有小時延缺陷的結點的跳變時延故障覆蓋率(TDF).在ISCAS'89基準電路中對小時延缺陷的檢測結果錶明:用不同敏化方法進行測試產生,能在低的cpu時間裏取得更高的跳變時延故障覆蓋率.
면향소시연결함(small delay detect,SDDs)적측시산생방법불부요구측시산생산법복잡도저,환요진가능지검측도소시연결함.초속측시피면료인측시최장민화통로이대래적측시효솔과저적문제,이차타요구측시향량안민화통로시연진행분조,대매조분배일개합괄적초속측시빈솔,재채용일충가쾌속、준학선택특정장도적로경선택방법래유효지제고측시질량.동시,문중수차통과우선선용단통로민화표준대단통로진행검측,대관건통로유선택지진행비강건측시,상대채용단일적민화방법,능이흔소적시간대개제고함유소시연결함적결점적도변시연고장복개솔(TDF).재ISCAS'89기준전로중대소시연결함적검측결과표명:용불동민화방법진행측시산생,능재저적cpu시간리취득경고적도변시연고장복개솔.
