计算机科学
計算機科學
계산궤과학
COMPUTER SCIENCE
2014年
5期
37-40
,共4页
张双悦%李硕%王红%杨士元
張雙悅%李碩%王紅%楊士元
장쌍열%리석%왕홍%양사원
现场可编程门阵列(FPGA)%查找表(LUT)%内建自测试(BIST)%故障覆盖率
現場可編程門陣列(FPGA)%查找錶(LUT)%內建自測試(BIST)%故障覆蓋率
현장가편정문진렬(FPGA)%사조표(LUT)%내건자측시(BIST)%고장복개솔
Field programmable gate array(FPGA)%Lookup table(LUT)%Built-in-self test(BIST)%Fault coverage
基于内建自测试(BIST)思想的FPGA测试方法利用被测芯片中的资源来构建测试所需的TPG或ORA,以减少测试对输入输出引脚和外部ATE的需求.传统的FPGA芯片BIST方法仅考虑自测试结构内被配置为CUT的资源,从而需要进行多次组测试来完成整个芯片的测试.在现有LUT自测试链结构的基础上,通过合理选择TPG的电路结构及测试配置,能够在相同测试开销下增加TPG部分的故障覆盖率,提高测试效率.
基于內建自測試(BIST)思想的FPGA測試方法利用被測芯片中的資源來構建測試所需的TPG或ORA,以減少測試對輸入輸齣引腳和外部ATE的需求.傳統的FPGA芯片BIST方法僅攷慮自測試結構內被配置為CUT的資源,從而需要進行多次組測試來完成整箇芯片的測試.在現有LUT自測試鏈結構的基礎上,通過閤理選擇TPG的電路結構及測試配置,能夠在相同測試開銷下增加TPG部分的故障覆蓋率,提高測試效率.
기우내건자측시(BIST)사상적FPGA측시방법이용피측심편중적자원래구건측시소수적TPG혹ORA,이감소측시대수입수출인각화외부ATE적수구.전통적FPGA심편BIST방법부고필자측시결구내피배치위CUT적자원,종이수요진행다차조측시래완성정개심편적측시.재현유LUT자측시련결구적기출상,통과합리선택TPG적전로결구급측시배치,능구재상동측시개소하증가TPG부분적고장복개솔,제고측시효솔.
