电子与封装
電子與封裝
전자여봉장
EIECTRONICS AND PACKAGING
2013年
9期
40-43
,共4页
长贮存寿命%失效模型%失效机理%加速因子
長貯存壽命%失效模型%失效機理%加速因子
장저존수명%실효모형%실효궤리%가속인자
long storage life%failure model%failure mechanism%accelerating factor
高可靠长寿命产品在军事、航空航天、电子工业、通信等领域应用越来越广泛，如何保障其可靠性与预测其寿命是值得深入研究的重要问题。越来越多的单位，特别是航空航天系统的单位，对其选用的产品提出了具有32年贮存寿命要求的高可靠性指标。长寿命及超长寿命的电子元器件的贮存寿命评价是以加速试验为评价方法的。建立准确的失效机理及模型是评价正确与否的关键。文章通过收集大量高温贮存及常温贮存的实测数据，建立失效模型，推算出应力条件及相应的加速因子。文中实践证明，通过模型仿真出的贮存寿命具有高的可信度。
高可靠長壽命產品在軍事、航空航天、電子工業、通信等領域應用越來越廣汎，如何保障其可靠性與預測其壽命是值得深入研究的重要問題。越來越多的單位，特彆是航空航天繫統的單位，對其選用的產品提齣瞭具有32年貯存壽命要求的高可靠性指標。長壽命及超長壽命的電子元器件的貯存壽命評價是以加速試驗為評價方法的。建立準確的失效機理及模型是評價正確與否的關鍵。文章通過收集大量高溫貯存及常溫貯存的實測數據，建立失效模型，推算齣應力條件及相應的加速因子。文中實踐證明，通過模型倣真齣的貯存壽命具有高的可信度。
고가고장수명산품재군사、항공항천、전자공업、통신등영역응용월래월엄범，여하보장기가고성여예측기수명시치득심입연구적중요문제。월래월다적단위，특별시항공항천계통적단위，대기선용적산품제출료구유32년저존수명요구적고가고성지표。장수명급초장수명적전자원기건적저존수명평개시이가속시험위평개방법적。건립준학적실효궤리급모형시평개정학여부적관건。문장통과수집대량고온저존급상온저존적실측수거，건립실효모형，추산출응력조건급상응적가속인자。문중실천증명，통과모형방진출적저존수명구유고적가신도。
High reliability, long storage life devices have been wildly applied in military, aviation, electronic industry, communication area. To estimate the actual storage life seems important in reliability assurance. More and more companies, especially aircraft manufactures, set up a 32 years long storage life requirement in IC reliability. Electronic device’s long storage life can be only estimated by accelerated way. The running model with applicable failure mechanism is extremely critical in reliability assessment. Testing the device’s parameter after step storage with kinds of temperature simulating different accelerating stress, ifnd out the right failure mechanism. Experimental data shows its high credibility by following this way.
