电子科技
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전자과기
IT AGE
2013年
9期
71-73,77
,共4页
E2PROM%失效分析%超差
E2PROM%失效分析%超差
E2PROM%실효분석%초차
在计算机的使用中,发现E2 PROM芯片出现数据丢失问题,导致计算机无法正常工作.通过对E2 PROM的失效分析,其结果表明,故障的原因是芯片失效所致.经试验验证分析,确定该E2pROM器件存在芯片某流片生产批次工艺参数RRPOLY较差,影响上电复位电路的工作状态,造成部分芯片在上电过程中出现数据丢失问题.另外在E2 PROM筛选中添加了非易失性测试,发现并解决了E2 PROM早期失效问题.验证试验表明该措施的有效性和可行性.
在計算機的使用中,髮現E2 PROM芯片齣現數據丟失問題,導緻計算機無法正常工作.通過對E2 PROM的失效分析,其結果錶明,故障的原因是芯片失效所緻.經試驗驗證分析,確定該E2pROM器件存在芯片某流片生產批次工藝參數RRPOLY較差,影響上電複位電路的工作狀態,造成部分芯片在上電過程中齣現數據丟失問題.另外在E2 PROM篩選中添加瞭非易失性測試,髮現併解決瞭E2 PROM早期失效問題.驗證試驗錶明該措施的有效性和可行性.
재계산궤적사용중,발현E2 PROM심편출현수거주실문제,도치계산궤무법정상공작.통과대E2 PROM적실효분석,기결과표명,고장적원인시심편실효소치.경시험험증분석,학정해E2pROM기건존재심편모류편생산비차공예삼수RRPOLY교차,영향상전복위전로적공작상태,조성부분심편재상전과정중출현수거주실문제.령외재E2 PROM사선중첨가료비역실성측시,발현병해결료E2 PROM조기실효문제.험증시험표명해조시적유효성화가행성.
