国外电子测量技术
國外電子測量技術
국외전자측량기술
FOREIGN ELECTRONIC MEASUREMENT TECHNOLOGY
2014年
7期
32-35
,共4页
SOC%差值二次分配%测试时间%TAM%NSGA-Ⅱ
SOC%差值二次分配%測試時間%TAM%NSGA-Ⅱ
SOC%차치이차분배%측시시간%TAM%NSGA-Ⅱ
SOC%the difference secondary allocation%testing time%TAM%NSGA-Ⅱ
片上系统SOC测试时间很大程度上取决于Wrapper和测试访问机制TAM(test access mechanism)的设计.为了优化SOC测试时间,主要对Wrapper和TAM进行设计,降低单个核的测试应用时间靠优化的Wrapper,在差值二次分配平衡扫描链的基础上,对TAM进行划分,以测试时间和TAM宽度为目标进行优化,运用非支配排序目标遗传算法(NSGA-II)对模型进行求解,并采用ITC'02标准电路中的d695电路为实例进行验证,结果表明该方法与基于SA、ILP算法相比,能够在降低SOC测试时间上获得较为理想的效果,并且降低相应的测试功耗,证明本实验方法切实可行.
片上繫統SOC測試時間很大程度上取決于Wrapper和測試訪問機製TAM(test access mechanism)的設計.為瞭優化SOC測試時間,主要對Wrapper和TAM進行設計,降低單箇覈的測試應用時間靠優化的Wrapper,在差值二次分配平衡掃描鏈的基礎上,對TAM進行劃分,以測試時間和TAM寬度為目標進行優化,運用非支配排序目標遺傳算法(NSGA-II)對模型進行求解,併採用ITC'02標準電路中的d695電路為實例進行驗證,結果錶明該方法與基于SA、ILP算法相比,能夠在降低SOC測試時間上穫得較為理想的效果,併且降低相應的測試功耗,證明本實驗方法切實可行.
편상계통SOC측시시간흔대정도상취결우Wrapper화측시방문궤제TAM(test access mechanism)적설계.위료우화SOC측시시간,주요대Wrapper화TAM진행설계,강저단개핵적측시응용시간고우화적Wrapper,재차치이차분배평형소묘련적기출상,대TAM진행화분,이측시시간화TAM관도위목표진행우화,운용비지배배서목표유전산법(NSGA-II)대모형진행구해,병채용ITC'02표준전로중적d695전로위실례진행험증,결과표명해방법여기우SA、ILP산법상비,능구재강저SOC측시시간상획득교위이상적효과,병차강저상응적측시공모,증명본실험방법절실가행.
