微处理机
微處理機
미처리궤
MICROPROCESSORS
2013年
5期
4-5
,共2页
单粒子翻转%时间冗余%加固设计
單粒子翻轉%時間冗餘%加固設計
단입자번전%시간용여%가고설계
Single event effect%Time redundancy%Radiation hardened design
集成电路受空间粒子辐射容易产生软故障.通过三模冗余、时间冗余和错误检测与纠正等电路结构设计加固方法可对其进行改善,有效增强其抗单粒子翻转的性能,有效防止因辐射产生的软故障.
集成電路受空間粒子輻射容易產生軟故障.通過三模冗餘、時間冗餘和錯誤檢測與糾正等電路結構設計加固方法可對其進行改善,有效增彊其抗單粒子翻轉的性能,有效防止因輻射產生的軟故障.
집성전로수공간입자복사용역산생연고장.통과삼모용여、시간용여화착오검측여규정등전로결구설계가고방법가대기진행개선,유효증강기항단입자번전적성능,유효방지인복사산생적연고장.
